Attraverso il Progetto FormulaCoVer la società Intex System srl ha sviluppato un sistema di colorimetria in grado di eseguire la formulazione di vernici coprenti su substrati in vetro o cristallo che devono poi essere osservati dal lato opposto alla superficie di applicazione.

Dal punto di vista tecnico, la difficoltà principale non risiede nella formulazione colorimetrica di vernici coprenti (un problema superato da decenni) ma nel fatto che il colore da imitare, così come l’eventuale misura di controllo qualità, vengono definiti ed eseguiti sulla faccia del substrato opposta a quella di applicazione della vernice. Ciò obbliga l’osservatore ad osservare la vernice attraverso uno strato di vetro con uno spessore elevato (ad esempio 2 cm), una circostanza che modifica pesantemente il colore apparente. Si noti che non esistevano sul mercato sistemi di colorimetria efficaci con caratteristiche di formulazione uguali a quelle suddette. La problematica del cambiamento di colore attraverso un supporto in vetro è esemplificata dalle seguente immagini.

Dal punto di vista tecnico, l’attività si è focalizzata nello sviluppo di un modello fisico ed un relativo algoritmo di calcolo che permettesse di calcolare (prevedere) la riflettanza spettrale misurata sulla faccia del vetro opposta a quella di deposizione della vernice. Tale predizione doveva avvenire unicamente sulla base della conoscenza dello spettro di riflettanza della vernice e delle caratteristiche ottiche del vetro. Evidentemente, la disponibilità di un modello di calcolo che permetta di prevedere quantitativamente la riflettanza sul lato esposto di una vernice applicata in realtà sulla faccia nascosta, costituisce la base per la realizzazione di una colorimetria quantitativa in questo settore industriale.

Questo problema è stato risolto brillantemente, ottnenedo una procedura di parametrizzazione dei substrati ed un modello matematico in grado di “trasferire” la riflettanza misurata su una faccia del vetro con quella osservata sulla faccia opposta.

La seguente figura mostra uno screenshot della finestra di parametrizzazione dei substrati (filtri).

In basso nella finestra vengono riportati gli scarti cromatici in assenza ed in presenza della parametrizzazione. Si noti che la previsione teorica della riflettanza sulla faccia esposta ha un’accuratezza pari a 0.19 unità di DE (CIELab) rispetto allo spettro misurato con uno spettrofotometro.

La finestra successiva mostra un esempio della funzione di formulazione.